Analisi morfologiche, metrologia 2d/3d e failure analysis con risoluzione macro, micro e nano.
Il workshop “Microscopia Digitale e Confocale 3D e Profilometria Laser Probe: analisi morfologiche, metrologia 2D/3D e failure analysis con risoluzione macro, micro e nano” si terrà il 19 ottobre 2026 presso il CNR ISM Montelibretti, con l’obiettivo di presentare le più avanzate tecniche di caratterizzazione superficiale, analisi morfologica e metrologia tridimensionale applicate alla ricerca e all’industria.
L’evento prevede una sessione introduttiva dedicata alla presentazione delle strumentazioni, seguita da attività pratiche di analisi e discussione dei risultati ottenuti su campioni reali portati dai partecipanti, offrendo così un’opportunità concreta di confronto sulle potenzialità delle tecniche di microscopia digitale, microscopia confocale 3D e profilometria laser.
Il workshop è organizzato dal Dr. Daniele Lonardo e dalla Dr.ssa Ludovica Rossi di SIMITECNO, in collaborazione con il CNR ISM, con il coordinamento del Dr. Daniele Maria Trucchi. L’iniziativa rappresenta un’importante occasione di aggiornamento tecnologico, formazione specialistica e networking per ricercatori, tecnologi e professionisti interessati alle metodologie avanzate di analisi delle superfici e failure analysis.
📅 Lunedì 19 ottobre 2026
🕘 Ore 10:00-13:00 e 14:00-16:00
📍 Area territoriale della Ricerca Roma1, ISM, Edificio 15, Aula biblioteca, Strada Provinciale 35d, n. 9 – 00010 Montelibretti (RM)
🎟️ Info e prenotazioni: daniele.lonardo@simitecno.it, ludovica.rossi@simitecno.it, danielemaria.trucchi@cnr.it